雖然目前預(yù)測(cè)LED光源的壽命超過5萬小時(shí)。但這個(gè)壽命指的是理論壽命，光源在25℃下的使用壽命。在實(shí)際使用過程中，會(huì)遇到高溫、高濕等惡劣環(huán)境，放大LED光源缺陷，加速材料老化，使LED光源快速失效。例如某燈珠在結(jié)溫又115℃上升20℃到135℃時(shí)壽命會(huì)下降3/5。因此LED的發(fā)熱、散熱成為L(zhǎng)ED照明技術(shù)發(fā)展的重大課題。

客戶需要解決什么問題？

某光電科技有限公司，主要進(jìn)行LED芯片、發(fā)光二極管、LED光源模組、LED發(fā)射管、LED半導(dǎo)體照明產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)，主要生產(chǎn)國(guó)際先進(jìn)的4英寸晶圓、120流明/瓦的LED功率型芯片，填補(bǔ)國(guó)內(nèi)空白，技術(shù)國(guó)內(nèi)領(lǐng)先。

 需要觀測(cè)LED功率芯片內(nèi)部的發(fā)的溫度情況與均勻性。LED中的金屬芯片的溫度在工作時(shí)應(yīng)該保持一致，非金屬部分保持一致。需要實(shí)時(shí)檢測(cè)LED功率芯片的溫度變化。

當(dāng)前有哪些解決方案及其弊端？

解決方案及弊端：

l  LED芯片尺寸為1mm*1mm，還需要看到溫度分布。正常在20倍放大的顯微鏡下才能看到芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)，所以傳統(tǒng)方式很難測(cè)量。

l  使用點(diǎn)溫槍讀數(shù)，由于LED芯片尺寸過小，讀數(shù)及其不準(zhǔn)確；

l  芯片太小，無法使用熱電偶進(jìn)行接觸測(cè)溫，熱電偶無法安裝。

l  手持式熱像儀容易產(chǎn)生抖動(dòng)，無法保證精密成像測(cè)溫

l  數(shù)采前端的熱電偶無法安裝，無法需要連續(xù)測(cè)試芯片溫度變化情況

FOTRIC產(chǎn)品如何幫助客戶解決問題及優(yōu)勢(shì)

下圖為實(shí)際測(cè)試一個(gè)LED功率型芯片，芯片尺寸為1mm*1mm,客戶想要觀測(cè)LED通電后芯片表面的溫度分布情況。黃色圓點(diǎn)表示上電后金屬芯片的溫度情況，6個(gè)黃點(diǎn)應(yīng)該保持溫度一致，白色圓點(diǎn)表示非金屬區(qū)域的溫度，應(yīng)保持一致。

FOTRIC紅外熱像儀的優(yōu)勢(shì)：

非接觸的方式可以直接讀出LED芯片的溫度分布情況，避免了因?yàn)榻佑|測(cè)溫造成的溫度變化；
由于可以配合微距鏡頭，F(xiàn)OTRIC熱像儀可以觀測(cè)很微小的物體；
FOTRIC熱像儀配備了研發(fā)測(cè)試臺(tái)，可以保存長(zhǎng)時(shí)間溫度測(cè)量，從而保證更精確的測(cè)量
  FOTRIC熱像儀具有旁路供電設(shè)計(jì)，可以在長(zhǎng)時(shí)間做在線監(jiān)控；
全輻射視頻可以查看溫度變化過程，后期也可以任意分析。

注意事項(xiàng)及配置方案

推薦采用 Fotric 226-2.該套裝內(nèi)包含50μm微距鏡頭和研發(fā)測(cè)試臺(tái)?；騀otric 227/228搭配50μm微距鏡?？蛻羧绻懈⌒酒托枰玫紽otric 227/228搭配20μm微距鏡頭。

哪些客戶也需要解決此類問題

LED芯片、發(fā)光二極管、LED光源模組、LED發(fā)射管、LED半導(dǎo)體照明產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)、LED半導(dǎo)體照明產(chǎn)品上下游檢測(cè)企業(yè)其他芯片生產(chǎn)廠商。